El movimiento de átomos a través de un material puede causar
problemas bajo ciertas circunstancias. La microscopía electrónica con
resolución atómica ha permitido a unos investigadores observar por vez
primera un fenómeno que ha eludido a los científicos expertos en
materiales durante muchas décadas.
En ciertos contextos técnicos, es extremadamente importante que se mantengan los límites entre capas.
Unos investigadores de la Universidad de Linköping en Suecia, y de la de
California en Berkeley, Estados Unidos, han conseguido ahora finalmente
observar la migración de átomos entre las capas de una película
delgada. El equipo de Magnus Garbrecht (Universidad de Linköping)
utilizó microscopía electrónica de barrido por transmisión, con una
resolución tan alta que fue posible visualizar las posiciones de los
átomos individuales en el material. La muestra que estudiaron fue una
película delgada en la cual unas capas de un metal, el nitruro de
hafnio, de alrededor de cinco milmillonésimas de metro de grosor, se
alternan con capas de un semiconductor, nitruro de escandio
MARÍA MARTÍNEZ Y LAURA GARCÍA 4.A
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